胶体颗粒相互作用在许多基础研究和实际应用中起着至关重要的作用，从生物科学到纳米和复合材料的工业生产，医药消费品，废水处理，原料提取和石油生产。
因此，许多先进的技术已经被应用于研究胶体颗粒之间的相互作用，例如渗透压监测，絮凝/凝结以及通过表面力仪器和原子力显微镜进行的直接测量[1-4]。
zeta电位分布测量已被应用于研究复杂的多组分系统中具有不同表面电荷特征的粒子之间的相互作用。
对于表面电荷特性差异不大的粒子，带有耗散监测功能的石英晶体微天平（QCM-D）有着能够衡量其相互作用的独特能力。
我们选择了具有耗散监测功能的石英晶体微天平（QCM-D）来研究颗粒之间的相互作用。
QCM-D是一种超灵敏技术，可确定数十纳克量级的质量变化或低于1 mu;g/cm2的质量密度。
这是一种可商购的技术。
简单的来说，高灵敏度、低成本和易于操作的特点，使QCM-D成为研究人员的选择，通过监视振荡石英晶体传感器的频率变化和耗散响应以确定真空或分子吸附或纳米颗粒沉积薄膜系统中的质量沉积速率，将其应用于液体中的晶体传感器表面。
与只能测量频率变化的传统QCM相比，QCM-D可以实时确定原位吸附层的质量和粘弹性。
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